microSDの耐久性テスト結果：SanDiskに異変？

microSDカードの耐久性試験：3年間で133ペタバイト書き込み、SanDisk製品の異常値が判明

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中級 TechCrunch AI 専門メディア動向・その他 2026-08-19T10:00:00

編集メモ: 長期間のデータ保存におけるmicroSDの耐久性には個体差があるため、ミッションクリティカルな環境では信頼性の高いストレージ選定と冗長化設計が不可欠です。

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351枚のmicroSDカードに対し3年間過酷な書き込み試験を実施。計133PBのデータ書き込みを経て寿命を測定した結果、SanDisk製品がテストした7枚中6枚が故障するという予想外の結果となった。